聯(lián)系我們 CONTACT US
聯(lián)系人：王經(jīng)理
電話：13311011131
（微信同號(hào)）
產(chǎn)品分類 PRODUCT
- 全自動(dòng)硬度計(jì)
- 里氏硬度計(jì)
- 洛氏硬度計(jì)
- 布氏硬度計(jì)
- 維氏硬度計(jì)
- 顯微維氏硬度計(jì)
- 布洛維硬度計(jì)
- 齒輪硬度計(jì)
- 軋輥專用硬度計(jì)
- 邵氏/橡膠硬度計(jì)
- 韋氏硬度計(jì)
- 巴氏硬度計(jì)
- 超聲波硬度計(jì)
- 鉛筆硬度計(jì)
- 水果硬度計(jì)
- 硬度計(jì)壓頭
- 標(biāo)準(zhǔn)硬度塊
- 粗糙度儀
- 錨紋深度儀
- 粗糙度比較板
- 噴涂表面檢測(cè)
- 超聲波測(cè)厚儀
- 涂層測(cè)厚儀
- 測(cè)振儀
- 超聲波探傷儀
- 磁粉探傷儀
- 紅外測(cè)溫儀
- 電火花檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)力計(jì)
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 德國(guó)PCE
- 易高Elcometer
- 荷蘭INNOVATEST
- 測(cè)距儀
- 頻閃儀
- 轉(zhuǎn)速表
- 激光測(cè)徑儀
- 材料試驗(yàn)機(jī)
- 裂紋測(cè)深儀
- 聲級(jí)計(jì)/噪音計(jì)
- 風(fēng)速計(jì)
- 溫濕度計(jì)
- 色差儀
- 附著力測(cè)試儀
- 光澤度儀
- 金相顯微鏡
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電導(dǎo)率儀
- 埋地管線探測(cè)儀
- 鐵素體含量檢測(cè)儀
- 測(cè)高儀
- 光譜儀
- 氣體檢測(cè)儀
- 燃?xì)庑孤z測(cè)儀
- 看譜鏡
- 在線非接觸測(cè)厚儀
- 交通工程儀器系列
一、超聲波探傷儀TUD500——產(chǎn)品概述：
超聲波探傷儀TUD500是一種便攜式工業(yè)無(wú)損探傷儀器，它能夠快速便捷、無(wú)損傷、**地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷（裂紋、夾雜、氣孔等）的檢測(cè)、定位、評(píng)估和診斷。既可以用于實(shí)驗(yàn)室，也可以用于工程現(xiàn)場(chǎng)。該超聲波探傷儀器能夠廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、鋼鐵冶金業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)等需要缺陷檢測(cè)和質(zhì)量控制的領(lǐng)域，也廣泛應(yīng)用于航空航天、鐵路交通、鍋爐壓力容器等領(lǐng)域的在役 **檢查與壽命評(píng)估。它是無(wú)損檢測(cè)行業(yè)的必備儀器。
二、超聲波探傷儀TUD500——功能特點(diǎn)：
※ 5.7″高亮彩色VGA（640x480）TFT液晶顯示屏， 解析度更高 、圖形細(xì)膩，色彩可選、 亮度可調(diào)
※ 獨(dú)有灰度B掃描顯示，可用于簡(jiǎn)單的TOFD 應(yīng)用
※ 新增內(nèi)外徑曲面修正功能，AWS D1.1 、 DAC、 AVG定量功能
※ 連續(xù)動(dòng)態(tài)記錄、海量存儲(chǔ)
※ USB、RS232接口同時(shí)具備，通訊自由
※ 12位（bit）AD轉(zhuǎn)換、系統(tǒng)分辨力更高
※ 符合 歐洲En12668-1的標(biāo)準(zhǔn) 要求
A掃B掃同時(shí)顯示灰度B掃，缺陷直觀可辯
三、超聲波探傷儀TUD500——技術(shù)參數(shù)：
A掃B掃同時(shí)顯示灰度B掃，缺陷直觀可辯
|
項(xiàng) 目 |
指 標(biāo) |
|
產(chǎn)品信息 |
|
|
產(chǎn)品重量（ kg ） |
<2.0 |
|
產(chǎn)品外型尺寸（ mm ） |
300 × 180 × 57 （不帶遮光罩） |
|
工作溫度（℃） |
-10 ～ +50 |
|
存儲(chǔ)溫度（℃） |
-20 ～ +60 |
|
語(yǔ)言 |
英語(yǔ)、中文 |
|
探頭連接 |
LEMO 或 BNC |
|
電池容量（ mAh ） |
聚合物電池 2 × 3.7V 5000mAh |
|
電池工作時(shí)間（ h ） |
8 |
|
快充時(shí)間（ h ） |
4.5 左右 |
|
電源適配器 |
輸入 100-240 ～ 50/60Hz
輸出 9V DC/ 3 A ～ 4A |
|
顯示屏 |
彩色透射式 TFT ， 640x480 |
|
基 本 |
|
|
測(cè)量單位 |
mm 、 inch 、 m s |
|
掃描范圍（ mm ） |
零界面入射～ 10000 |
|
聲速調(diào)節(jié)（ m/s ） |
600 ～ 16000 |
|
探頭延遲（ m s ） |
0.000 ～ 750.000 |
|
顯示延遲（ m s ） |
-20 ～ +3400 |
|
工作方式 |
單探頭、雙探頭、透射 |
|
波形顯示方式 |
A 掃描顯示、灰度 B 掃描顯示、 AB 掃描同時(shí)顯示 |
|
脈沖發(fā)生器 |
|
|
脈沖形式 |
模擬方波 |
|
發(fā)射電源（ V ） |
200 、 400 、 600 、 1000 |
|
發(fā)射脈寬（ ns ） |
75 、 100 ～ 500 |
|
探頭阻尼 (Ω) |
50 、 100 、 200 、 500 |
|
發(fā)射重復(fù)頻率 (Hz) |
10 ～ 1000 |
|
接收器 |
|
|
增益（ dB ） |
0 ～ 110 |
|
總帶寬（ MHz ） |
0.1~15 (-3dB) |
|
檢波方式 |
正半波、負(fù)半波、全波、射頻 |
|
垂直線性誤差 |
± 2% |
|
放大器精度（ dB ） |
± 1 |
|
抑制（ % ） |
屏高的 0 ～ 80 |
|
采樣速率（ MHz ） |
80 |
|
發(fā)射串?dāng)_抑制（ dB ） |
大于 80 |
|
發(fā)射脈沖后盲區(qū)（ μs ） |
3.3~10( 與發(fā)射有關(guān) ) |
|
動(dòng)態(tài)范圍（ dB ） |
100 |
|
瞬時(shí)分辨力（ dB ） |
32 |
|
時(shí)基線性 |
不大于全屏寬度的± 0.5% 。 |
|
靈敏度余量 |
≥ 62dB |
|
測(cè)量及其他 |
|
|
測(cè)量閘門 |
2 個(gè)獨(dú)立測(cè)量閘門 |
|
檢測(cè)方式 |
邊沿、峰值 |
|
閘門測(cè)量 |
回波的幅值、聲程、深度、投影等 |
|
凍結(jié) |
凍結(jié)方式有：全凍結(jié)、峰值、比較、包絡(luò)等方式 |
|
AVG 當(dāng)量計(jì)算 |
根據(jù)缺陷回波和 AVG 曲線自動(dòng)計(jì)算缺陷當(dāng)量 |
|
DAC 缺陷定量 |
根據(jù)缺陷回波和 DAC 曲線對(duì)缺陷進(jìn)行評(píng)估 |
|
閘門邏輯 |
關(guān)、測(cè)量、進(jìn)波報(bào)警、失波報(bào)警 |
|
閘門報(bào)警 |
關(guān)、即時(shí)、保持 .2s 、保持 .5s 、保持 1s 、保持 2s 、鎖存 |
|
報(bào)警蜂鳴 |
關(guān)、開 |
|
數(shù)據(jù)管理，通信及打印 |
|
|
數(shù)據(jù)存儲(chǔ) |
50 個(gè)探傷參數(shù)通道記錄 |
|
1000 幅波形圖
（包括 980 幅 A 掃描波形和 20 幅 B 掃描波形） |
|
|
4x2000 幀的動(dòng)態(tài)波形 |
|
|
數(shù)據(jù)管理 |
實(shí)現(xiàn)對(duì)通道、波形、動(dòng)態(tài)記錄的存儲(chǔ)、查看、回放操作 |
|
上述均可存儲(chǔ)到本地或 U 盤 |
|
|
通信 |
通過(guò) USB 接口與 PC 機(jī)通信 |
|
打印 |
打印探傷報(bào)告 |
|
輸出接口 |
|
|
USB OTG 接口 |
USB2.0 Device 與 PC 機(jī)通訊接口
USB2.0 Host 接 U 盤或打印機(jī) |
|
微型 RS232 接口 |
|
|
電源適配接口 |
|
